Variance of the fatigue damage due to a Gaussian narrowband process
Auteur(s): |
Y. M. Low
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Structural Safety, janvier 2012, v. 34 |
Page(s): | 381-389 |
DOI: | 10.1016/j.strusafe.2011.09.001 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10254461 - Publié(e) le:
17.12.2018 - Modifié(e) le:
17.12.2018