Variance of the fatigue damage due to a Gaussian narrowband process
Autor(en): |
Y. M. Low
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Structural Safety, Januar 2012, v. 34 |
Seite(n): | 381-389 |
DOI: | 10.1016/j.strusafe.2011.09.001 |
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Datenseite - Reference-ID
10254461 - Veröffentlicht am:
17.12.2018 - Geändert am:
17.12.2018