Thickness mode EMIS of constrained proof-mass piezoelectric wafer active sensors
| Auteur(s): |
Tuncay Kamas
Victor Giurgiutiu Bin Lin |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, novembre 2015, n. 11, v. 24 |
| Page(s): | 115035 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/24/11/115035 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10226050 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
Structurae coopère avec
