The thermal damaging process of diorite under microwave irradiation
| Auteur(s): |
Xirui Lu
Chen Yuan Zeng Junsen Hu Qijun Shao Dadong Zhang Haibin Lu Xirui |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Frattura ed Integrità Strutturale, décembre 2018, n. 47, v. 13 |
| Page(s): | 65-73 |
| DOI: | 10.3221/igf-esis.47.06 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10457824 - Publié(e) le:
24.10.2020 - Modifié(e) le:
24.10.2020
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