The thermal damaging process of diorite under microwave irradiation
| Autor(en): |
Xirui Lu
Chen Yuan Zeng Junsen Hu Qijun Shao Dadong Zhang Haibin Lu Xirui |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Frattura ed Integrità Strutturale, Dezember 2018, n. 47, v. 13 |
| Seite(n): | 65-73 |
| DOI: | 10.3221/igf-esis.47.06 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10457824 - Veröffentlicht am:
24.10.2020 - Geändert am:
24.10.2020
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