Structural damage detection using a magnetic impedance approach with circuitry integration
| Auteur(s): |
X. Wang
J. Tang |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, mars 2011, n. 3, v. 20 |
| Page(s): | 035022 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/20/3/035022 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10216684 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
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