Structural damage detection using a magnetic impedance approach with circuitry integration
| Autor(en): |
X. Wang
J. Tang |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Smart Materials and Structures, März 2011, n. 3, v. 20 |
| Seite(n): | 035022 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/20/3/035022 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10216684 - Veröffentlicht am:
04.12.2018 - Geändert am:
04.12.2018
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