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Reduction of leakage currents in ferroelectric thin films by flexoelectricity: a phase field study

Cette publication a 57 références bibliographiques :

  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10214882
  • Publié(e) le:
    04.12.2018
  • Modifié(e) le:
    04.12.2018
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