Reduction of leakage currents in ferroelectric thin films by flexoelectricity: a phase field study
| Auteur(s): |
Xiaofei Xu
Limei Jiang Yichun Zhou |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, novembre 2017, n. 11, v. 26 |
| Page(s): | 115024 |
| DOI: | 10.1088/1361-665x/aa8dc8 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10214882 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
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