Pseudo-dynamic testing using conventional testing devices
Auteur(s): |
Masayoshi Nakashima
Takashi Akazawa Hideichi Igarashi |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Earthquake Engineering and Structural Dynamics, octobre 1995, n. 10, v. 24 |
Page(s): | 1409-1422 |
DOI: | 10.1002/eqe.4290241009 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10117654 - Publié(e) le:
07.12.2018 - Modifié(e) le:
07.12.2018