Probabilistic relationship between Q-value and electrical resistivity
| Auteur(s): |
Hee-Hwan Ryu
Tae-Min Oh Gye-Chun Cho Kyoung-Yul Kim Kang-Ryel Lee Dae-Soo Lee |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | KSCE Journal of Civil Engineering, mars 2014, n. 3, v. 18 |
| Page(s): | 780-786 |
| DOI: | 10.1007/s12205-014-0339-z |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10172071 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
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