Probabilistic relationship between Q-value and electrical resistivity
| Autor(en): |
Hee-Hwan Ryu
Tae-Min Oh Gye-Chun Cho Kyoung-Yul Kim Kang-Ryel Lee Dae-Soo Lee |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | KSCE Journal of Civil Engineering, März 2014, n. 3, v. 18 |
| Seite(n): | 780-786 |
| DOI: | 10.1007/s12205-014-0339-z |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10172071 - Veröffentlicht am:
04.12.2018 - Geändert am:
04.12.2018
Structurae kooperiert mit
