Numerical modelling on dispersion behavior of particulate contamination induced by a moving operator in a semiconductor cleanroom: A eulerian-eulerian method
| Auteur(s): |
Yao Chengxi
Lee Seungjae Huh Dongbin Kim Taesung |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Journal of Building Engineering, novembre 2024, v. 96 |
| Page(s): | 110409 |
| DOI: | 10.1016/j.jobe.2024.110409 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10792745 - Publié(e) le:
01.09.2024 - Modifié(e) le:
01.09.2024
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