Irreversibility effects in piezoelectric wafer active sensors after exposure to high temperature
Auteur(s): |
Mohammad Faisal Haider
Victor Giurgiutiu Bin Lin Lingyu Yu |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Smart Materials and Structures, septembre 2017, n. 9, v. 26 |
Page(s): | 095019 |
DOI: | 10.1088/1361-665x/aa785f |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10215216 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018