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Irreversibility effects in piezoelectric wafer active sensors after exposure to high temperature

Structurae ne peut pas vous offrir cette publication en texte intégral pour l'instant. Le texte intégral est accessible chez l'éditeur. DOI: 10.1088/1361-665x/aa785f.
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    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10215216
  • Publié(e) le:
    04.12.2018
  • Modifié(e) le:
    04.12.2018
 
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