Irreversibility effects in piezoelectric wafer active sensors after exposure to high temperature
Autor(en): |
Mohammad Faisal Haider
Victor Giurgiutiu Bin Lin Lingyu Yu |
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Smart Materials and Structures, September 2017, n. 9, v. 26 |
Seite(n): | 095019 |
DOI: | 10.1088/1361-665x/aa785f |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10215216 - Veröffentlicht am:
04.12.2018 - Geändert am:
04.12.2018