Electrostatic measures for a piezoelectric thin film with an embedded crack in the substrate: II. Mode II
| Auteur(s): |
Rizwaan Ali
D. Roy Mahapatra S. Gopalakrishnan |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, avril 2008, n. 2, v. 17 |
| Page(s): | 025038 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/17/2/025038 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10223714 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
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