Electrostatic measures for a piezoelectric thin film with an embedded crack in the substrate: II. Mode II
| Autor(en): |
Rizwaan Ali
D. Roy Mahapatra S. Gopalakrishnan |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Smart Materials and Structures, April 2008, n. 2, v. 17 |
| Seite(n): | 025038 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/17/2/025038 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10223714 - Veröffentlicht am:
04.12.2018 - Geändert am:
04.12.2018
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