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Effect of Crystallographic Orientations on Fractures and Slip Occurrences at 500 °C of (110) Single Crystal Silicon Microstructures

Auteur(s):



Médium: article de revue
Langue(s): anglais
Publié dans: Procedia Structural Integrity, , v. 2
Page(s): 1413-1420
DOI: 10.1016/j.prostr.2016.06.179
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  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10641671
  • Publié(e) le:
    17.02.2022
  • Modifié(e) le:
    17.02.2022
 
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