EDX/XRD-based identification of micrometer-sized domains in scanning electron micrographs of fired clay
| Auteur(s): |
Hawraa Kariem
Thomas Kiefer Christian Hellmich Wolfgang Gaggl Andreas Steiger-Thirsfeld Josef Füssl |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Materials and Structures, 26 juin 2020, n. 4, v. 53 |
| DOI: | 10.1617/s11527-020-01531-7 |
| Copyright: | © The Author(s) 2020 |
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- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10429326 - Publié(e) le:
14.08.2020 - Modifié(e) le:
02.06.2021
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