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Deep exponential excitation networks: toward stronger attention mechanism for weak fault diagnosis

Auteur(s): (School of Mechatronics Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, Heilongjiang, China)
ORCID (School of Ocean Engineering, Harbin Institute of Technology, Weihai, Shandong, China)
(School of Mechatronics Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, Heilongjiang, China)
(School of Mechatronics Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, Heilongjiang, China)
(School of Ocean Engineering, Harbin Institute of Technology, Weihai, Shandong, China)
Médium: article de revue
Langue(s): anglais
Publié dans: Structural Health Monitoring, , n. 6, v. 23
Page(s): 3850-3866
DOI: 10.1177/14759217231217936
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  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10775583
  • Publié(e) le:
    29.04.2024
  • Modifié(e) le:
    10.11.2024
 
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