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Deep exponential excitation networks: toward stronger attention mechanism for weak fault diagnosis

Autor(en): (School of Mechatronics Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, Heilongjiang, China)
ORCID (School of Ocean Engineering, Harbin Institute of Technology, Weihai, Shandong, China)
(School of Mechatronics Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, Heilongjiang, China)
(School of Mechatronics Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, Heilongjiang, China)
(School of Ocean Engineering, Harbin Institute of Technology, Weihai, Shandong, China)
Medium: Fachartikel
Sprache(n): Englisch
Veröffentlicht in: Structural Health Monitoring, , n. 6, v. 23
Seite(n): 3850-3866
DOI: 10.1177/14759217231217936
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  • Über diese
    Datenseite
  • Reference-ID
    10775583
  • Veröffentlicht am:
    29.04.2024
  • Geändert am:
    10.11.2024
 
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