Crack detection using electric conductive finite elements
Auteur(s): |
D. S. Hsu
C. H. Tsai |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Computers & Structures, octobre 1992, n. 3, v. 45 |
Page(s): | 471-479 |
DOI: | 10.1016/0045-7949(92)90432-y |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10277707 - Publié(e) le:
05.01.2019 - Modifié(e) le:
05.01.2019