Crack detection using electric conductive finite elements
Autor(en): |
D. S. Hsu
C. H. Tsai |
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Computers & Structures, Oktober 1992, n. 3, v. 45 |
Seite(n): | 471-479 |
DOI: | 10.1016/0045-7949(92)90432-y |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10277707 - Veröffentlicht am:
05.01.2019 - Geändert am:
05.01.2019