Capacitance-based defect detection and defect location determination for cement-based material
| Auteur(s): |
Yulin Wang
D. D. L. Chung |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Materials and Structures, décembre 2017, n. 6, v. 50 |
| DOI: | 10.1617/s11527-017-1094-7 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10151340 - Publié(e) le:
11.12.2018 - Modifié(e) le:
11.12.2018
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