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Advanced signal processing for enhanced damage detection with piezoelectric wafer active sensors

Auteur(s):

Médium: article de revue
Langue(s): anglais
Publié dans: Smart Structures and Systems, , n. 2, v. 1
Page(s): 185-215
DOI: 10.12989/sss.2005.1.2.185
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  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10666052
  • Publié(e) le:
    27.05.2022
  • Modifié(e) le:
    27.05.2022
 
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