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Advanced signal processing for enhanced damage detection with piezoelectric wafer active sensors

Autor(en):

Medium: Fachartikel
Sprache(n): Englisch
Veröffentlicht in: Smart Structures and Systems, , n. 2, v. 1
Seite(n): 185-215
DOI: 10.12989/sss.2005.1.2.185
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  • Reference-ID
    10666052
  • Veröffentlicht am:
    27.05.2022
  • Geändert am:
    27.05.2022
 
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