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Adaptive analysis of yield line patterns in plates with the arbitrary Lagrangian–Eulerian method

Auteur(s):


Médium: article de revue
Langue(s): anglais
Publié dans: Computers & Structures, , n. 3, v. 70
Page(s): 257-271
DOI: 10.1016/s0045-7949(98)00188-6
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  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10280192
  • Publié(e) le:
    05.01.2019
  • Modifié(e) le:
    05.01.2019
 
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