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Adaptive analysis of yield line patterns in plates with the arbitrary Lagrangian–Eulerian method

Autor(en):


Medium: Fachartikel
Sprache(n): Englisch
Veröffentlicht in: Computers & Structures, , n. 3, v. 70
Seite(n): 257-271
DOI: 10.1016/s0045-7949(98)00188-6
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  • Über diese
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  • Reference-ID
    10280192
  • Veröffentlicht am:
    05.01.2019
  • Geändert am:
    05.01.2019
 
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