Advanced Nanoscale Characterization of Cement Based Materials Using X-Ray Synchrotron Radiation: A Review
| Autor(en): |
Sejung R. Chae
Juhyuk Moon Seyoon Yoon Sungchul Bae Pierre Levitz Robert Winarski Paulo J. M. Monteiro |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | International Journal of Concrete Structures and Materials, Mai 2013, n. 2, v. 7 |
| Seite(n): | 95-110 |
| DOI: | 10.1007/s40069-013-0036-1 |
| Copyright: | © The Author(s) 2013 |
| Lizenz: | Dieses Werk wurde unter der Creative-Commons-Lizenz Namensnennung 2.0 Generic (CC-BY 2.0) veröffentlicht und darf unter den Lizenzbedinungen vervielfältigt, verbreitet, öffentlich zugänglich gemacht, sowie abgewandelt und bearbeitet werden. Dabei muss der Urheber bzw. Rechteinhaber genannt und die Lizenzbedingungen eingehalten werden. |
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10201569 - Veröffentlicht am:
11.12.2018 - Geändert am:
02.06.2021
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