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La bibliographie suivante contient toutes les publications répertoriées dans la base de données qui sont reliées à ce nom en tant qu'auteur, éditeur ou collaborateur.

  1. Kim, Taewan / Yoon, Youngjoon / Lee, Byeongdo / Ham, Namhyuk / Kim, Jae-Jun (2022): Cost–Benefit Analysis of Scan-vs-BIM-Based Quality Management. Dans: Buildings, v. 12, n. 12 (1 décembre 2022).

    https://doi.org/10.3390/buildings12122052

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