Top electrode size effects in the piezoresponse force microscopy of piezoelectric thin films attached to a rigid substrate
Auteur(s): |
J. H. Wang
|
---|---|
Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Smart Materials and Structures, octobre 2017, n. 10, v. 26 |
Page(s): | 105045 |
DOI: | 10.1088/1361-665x/aa89ad |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10214960 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018