Thickness-dependence of magnetic anisotropy and domain structure in Ni thin films grown on a PMN-PT substrate
Auteur(s): |
Yuanzhi Xiang
Kun Liang Scott Keller Michael Guevara Michael Sheng Zhuo Yan Peng Zhou Yajun Qi Zhijun Ma Ying Liu Gopalan Srinivasan Greg Carman Tianjin Zhang Christopher S. Lynch |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Smart Materials and Structures, juillet 2020, n. 9, v. 29 |
Page(s): | 095019 |
DOI: | 10.1088/1361-665x/aba53d |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10428263 - Publié(e) le:
30.07.2020 - Modifié(e) le:
24.08.2020