Structural health monitoring by electrical resistance measurement
| Auteur(s): |
D. D. L. Chung
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|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, août 2001, n. 4, v. 10 |
| Page(s): | 624-636 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/10/4/305 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10215540 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
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