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Stress Concentration of a Microvoid Embedded in a Bilayered Material Considering the Boundary Effects

Structurae ne peut pas vous offrir cette publication en texte intégral pour l'instant. Le texte intégral est accessible chez l'éditeur. DOI: 10.1061/jenmdt.emeng-6779.
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    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10695958
  • Publié(e) le:
    10.12.2022
  • Modifié(e) le:
    10.12.2022
 
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