A simulation of the structural stability of field emission micro-tips against discharge
Auteur(s): |
I. J. Chung
I. B. Kang A. Hariz |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Smart Materials and Structures, octobre 1997, n. 5, v. 6 |
Page(s): | 628-632 |
DOI: | 10.1088/0964-1726/6/5/015 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10214626 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018