Semi-supervised learning with GAN for automatic defect detection from images
| Auteur(s): |
Gaowei Zhang
Yue Pan Limao Zhang |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Automation in Construction, août 2021, v. 128 |
| Page(s): | 103764 |
| DOI: | 10.1016/j.autcon.2021.103764 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10608897 - Publié(e) le:
22.05.2021 - Modifié(e) le:
22.05.2021
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