Optical measurement of slope, thickness and velocity in liquid film flow
| Auteur(s): |
C. F. Than
K. C. Tee K. S. Low C. P. Tso |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, mars 1993, n. 1, v. 2 |
| Page(s): | 13-21 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/2/1/003 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10214089 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
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