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On the influence of T-Stress on photoelastic analysis under pure mode II loading

Auteur(s):

Médium: article de revue
Langue(s): anglais
Publié dans: Frattura ed Integrità Strutturale, , n. 3, v. 2
Page(s): 2-10
DOI: 10.3221/igf-esis.03.01
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  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10458762
  • Publié(e) le:
    25.10.2020
  • Modifié(e) le:
    25.10.2020
 
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