A Gaussian process emulator approach for rapid contaminant characterization with an integrated multizone-CFD model
| Auteur(s): |
Piyush M. Tagade
Byeong-Min Jeong Han-Lim Choi |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Building and Environment, décembre 2013, v. 70 |
| Page(s): | 232-244 |
| DOI: | 10.1016/j.buildenv.2013.08.023 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10390119 - Publié(e) le:
26.11.2019 - Modifié(e) le:
26.11.2019
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