Fragility estimates of smart structures with sensor faults
| Auteur(s): |
Yeesock Kim
Jong-Wha Bai Leonard D. Albano |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, décembre 2013, n. 12, v. 22 |
| Page(s): | 125012 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/22/12/125012 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10225270 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
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