Accurate measurement of the piezoelectric coefficient of thin films by eliminating the substrate bending effect using spatial scanning laser vibrometry
Autor(en): |
Glenn J. T. Leighton
Zhaorong Huang |
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Smart Materials and Structures, Juni 2010, n. 6, v. 19 |
Seite(n): | 065011 |
DOI: | 10.1088/0964-1726/19/6/065011 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10224194 - Veröffentlicht am:
04.12.2018 - Geändert am:
04.12.2018