Contaminant particles removal by negative air ionic cleaner in industrial minienvironment for IC manufacturing processes
Autor(en): |
Angus Shiue
Shih-Cheng Hu |
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Building and Environment, August 2011, n. 8, v. 46 |
Seite(n): | 1537-1544 |
DOI: | 10.1016/j.buildenv.2011.01.006 |
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Datenseite - Reference-ID
10390850 - Veröffentlicht am:
26.11.2019 - Geändert am:
26.11.2019