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Charging/discharging of silicon nanocrystals embedded in an SiO2 matrix inducing reduction/recovery in the total capacitance and tunneling current

Diese Veröffentlichung enthält 9 Literaturhinweise zu anderen Veröffentlichungen:

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  • Reference-ID
    10222986
  • Veröffentlicht am:
    04.12.2018
  • Geändert am:
    04.12.2018
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