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Charging/discharging of silicon nanocrystals embedded in an SiO2 matrix inducing reduction/recovery in the total capacitance and tunneling current

Autor(en):



Medium: Fachartikel
Sprache(n): Englisch
Veröffentlicht in: Smart Materials and Structures, , n. 1, v. 15
Seite(n): S43-S46
DOI: 10.1088/0964-1726/15/1/008
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  • Über diese
    Datenseite
  • Reference-ID
    10222986
  • Veröffentlicht am:
    04.12.2018
  • Geändert am:
    04.12.2018
 
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