A non-local based microcrack segmentation model optimized for effective high resolution and low-power devices
Autor(en): |
Kyung-Su Kang
JoonOh Seo Han-Guk Ryu |
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Journal of Building Engineering, November 2024, v. 96 |
Seite(n): | 110650 |
DOI: | 10.1016/j.jobe.2024.110650 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10817851 - Veröffentlicht am:
03.02.2025 - Geändert am:
03.02.2025