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Monte Carlo model for the analysis and development of III-V Tunnel-FETs and Impact Ionization-MOSFETs

Diese Veröffentlichung enthält 16 Literaturhinweise zu anderen Veröffentlichungen:

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  • Reference-ID
    10671222
  • Veröffentlicht am:
    12.06.2022
  • Geändert am:
    12.06.2022
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