The LCPC BOX: a cheap and simple technique for yield stress measurements of SCC
Autor(en): |
Nicolas Roussel
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Materials and Structures, November 2007, n. 9, v. 40 |
Seite(n): | 889-896 |
DOI: | 10.1617/s11527-007-9230-4 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10151275 - Veröffentlicht am:
10.12.2018 - Geändert am:
10.12.2018