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Effects of annealing conditions on photoelectrical properties of Ba1−xSrxNbyTi1−yO3 thin-film resistor

Diese Veröffentlichung enthält 8 Literaturhinweise zu anderen Veröffentlichungen:

  • Über diese
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  • Reference-ID
    10223035
  • Veröffentlicht am:
    04.12.2018
  • Geändert am:
    04.12.2018
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