Characterization of CRM Binders with Wax Additives Using an Atomic Force Microscopy (AFM) and an Optical Microscopy
| Autor(en): |
Hyun Hwan Kim
Mithil Mazumder Anthony Torres Soon-Jae Lee Moon-Sup Lee |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Advances in Civil Engineering Materials, Dezember 2017, n. 1, v. 6 |
| Seite(n): | 20160071 |
| DOI: | 10.1520/acem20160071 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10330381 - Veröffentlicht am:
27.07.2019 - Geändert am:
27.07.2019
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