Time–frequency analysis of electro-mechanical impedance (EMI) signature for physics-based damage detections using piezoelectric wafer active sensor (PWAS)

Autor(en):	F. Zahedi H. Huang
Medium:	Fachartikel
Sprache(n):	Englisch
Veröffentlicht in:	Smart Materials and Structures, Mai 2017, n. 5, v. 26
Seite(n):	055010
DOI:	10.1088/1361-665x/aa64c0

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